（2）衍射條紋清晰且視場亮度合適。

 

（3）定性觀察衍射條紋。，觀察衍射條紋的分布（疏密）與屏距變化的關系。然后調節一個適當的屏距，使中央明紋兩側有6～8級衍射條紋。

 

（4）測量。調節光電探頭逐一對準中央零級兩側１～５級亮條紋，分別記錄其位置，算出kx2。記錄分劃板與光電探頭在光學平臺或光具座米尺上的位置，算出距離f。

 

（5）重復測量3次。然后根據式(25-4)可得出單縫的寬度,并計算相對誤差。驗證中央明條紋寬度是兩側明條紋寬度的兩倍。

 

（6）繪制衍射光的相對強度I／Io與位置坐標x的關系曲線。由于光的強度與檢流計所指示的電流讀數成正比，因此可用檢流計的光電流的相對強度，i／io代替衍射光的相對強度I／Io

 

（7）自行設計表格記錄數據，并按要求處理數據。